更新時間:2018-09-05
禾苗E8-SPR RoSH鹵素檢測儀能量色散光譜儀。HeLeeX E8-SPR是一款專門RoHS檢測儀器,其核心光路系統集合國內外幾十年EDXRF*技術,核心部件采用美國進口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術,儀器所用標準樣品均有第三方檢測機構報告;HeLeeXE8精密度高、準確度、檢出限等技術參數全面超過國內外同類儀器。
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禾苗E8-SPR RoSH鹵素檢測儀能量色散光譜儀
又稱Rosh檢測儀,X熒光光譜儀,專業鍍層測試儀,能量色散光譜儀,光譜儀,鍍層測試儀等只是稱呼變化,其實HeLeeX E8-SPR是一款專門RoHS檢測儀器,其核心光路系統集合國內外幾十年EDXRF*技術,核心部件采用美國進口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術,儀器所用標準樣品均有權威第三方檢測機構報告;HeLeeXE8精密度高、準確度、檢出限等技術參數全面超過國內外同類儀器。
應用領域:
●各種電子電器產品RoHS檢測
●鹵素檢測
●鍍層厚度分析
RoHS檢測儀器探測器
● 類型:X-123 Si-PIN探測器(采用*高性能電致冷半導體探測器)
● Be窗厚度:1mil
● 晶體面積:25mm2
● 分辨率:145eV
RoHS檢測儀器X射線管
● 電 壓 :0~50kV
● 最大電流 :2.0mA
● 最大功率 :50W
● 靶 材 :Mo
● Be窗厚度 :0.2mm
● 使用壽命 :大于2萬小時
1.1輻射防護
1.2多規格樣品倉
1.3 X-Ray探測器
HeLeeX E8-SPR采用美國完整版(包括探頭、前置放大器、主放大電路、數字多道分析器全部*)*一體式X-123半導體X射線探測器,其良好的半導體制冷技術,高峰背比(信噪比),超高計數率,*的分辨率和穩定性以及高集成化等特點,超越其他品牌或同品牌的組裝探測器。
1.4多種規格測試光斑
Ø HeLeeX E8-SPR采用模塊化分體式X射線準直器技術,根據用戶需求,可快速配置Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3mm、Φ5mm、Φ7mm準直器。滿足樣品中不同大小點測試需求。
1.5小細節大智慧
禾苗E8-SPR RoSH鹵素檢測儀能量色散光譜儀產品特點:
● 儀器結構采用人體工程學設計,儀器兩側按成人手臂長度設計,方便移動、搬運。
● 上蓋傾斜6度角,寓意對客戶的尊重。
● 表面采用高檔汽車噴漆工藝,采用寶藍、雅致白搭配,藍色代表科技,白色代表圣潔,寓意對科學的敬仰。
輻射防護:
● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線。
● 輻射標志警示。
● 迷宮式結構,防止射線泄漏。
● 安全連鎖設計;測試過程中誤打開樣品蓋時,電路0.1μS快速切斷X射線。
● 儀器經權威第三方檢測,X射線劑量率*符合GB18871-2002《電離輻射防護與輻射源安全基本標準》。
硬件技術:
● 超短光路設計:提高無鹵檢測分辨率,提高樣品分析效率,降低光管功率,延長儀器使用壽命。
● 模塊化準直器,根據分析元素,配備不同材質準直器,從而降低準直器對分析元素的影響,提高元素分辨率。
● 空氣動力學設計,加速光管冷卻,有效降低儀器內部溫度;靜音設計。
● 電路系統符合EMC、FCC測試標準。
● 快拆樣品盤,更換薄膜更方便。
軟件技術:
●分析元素:Na~U之間元素。
● 分析時間:60~400秒。
● 配置RoHS檢測分析模型,無鹵分析模型。
● 軟件界面簡潔,模塊化設計,功能清晰,易操作。
● HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數據一鍵備份,一鍵還原功能,保護用戶數據安全。
● HeLeeX ED Workstation V3.0根據不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測試精準度。
● HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能,客戶建立自己的工作模型。
高壓電源
● 輸出電壓:0~50kV
● 燈絲電流:0~2mA
● 最大功率:50W
● 紋波系數:0.1%(p-p值)
● 8小時穩定性:0.05%
攝像頭
● 微焦距
● 免驅動
● 500萬像素
準直器、濾光片
● 快拆卸準直器、濾光片系統
● 多種材質準直器
● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可選
●多種濾光片、準直器組合,軟件自動切換
● 外形尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (長x寬x高)
● 樣品倉尺寸 :360mm×330 mm ×50 mm (長x寬x高)
● 儀器重量 :33.5kg
● 供電電源 :AC220V/ 50Hz
● 最大功率 :330W
● 工作溫度 :15-30℃
● 相對濕度 :≤85%,不結露
其他配件
●進口高性能開關電源
●進口低噪聲、大風量風扇