更新時(shí)間:2017-08-16
致茂Chroma 11050-30M 高頻LCR表。測(cè)試參數(shù): L/C/R/Z/Y/DCR/Q/D/ θ測(cè)試頻率: 20Hz ~ 10MHz測(cè)試電壓: 10mV ~ 1V基本準(zhǔn)確度: 0.1%15ms 快速量測(cè)3 種輸出阻抗模式測(cè)試訊號(hào)監(jiān)測(cè)功能比較與分類(lèi)選別功能開(kāi)短路與載入補(bǔ)償功能量測(cè)、顯示單元分離式設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)的Handler、RS-232C、USB儲(chǔ)存與外部重迭電流控制
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致茂Chroma 11050-30M 高頻LCR表
11050 series | 高頻 LCR 表 | |
11050 | 高頻 LCR 表 (1kHz~10MHz) | |
11050-5M | 高頻 LCR 表 (60Hz ~ 5MHz) | |
11050-30M | 高頻 LCR 表 (75kHz ~ 30MHz) | |
A110501 | 四端 SMD 測(cè)試盒 | |
A110211 | 測(cè)試治具 (DIP) | |
A110234 | 高頻測(cè)試線(xiàn) (1m) | |
A133509 | GPIB & Handler 介面卡 | |
A133510 | LAN & USB-H 介面卡 | |
B110500 | High Frequency Extension Test Lead for Automation (BNC to SMA, 1m) |
簡(jiǎn)要介紹
致茂Chroma 11050-30M 高頻LCR表為一提供被動(dòng)元件量測(cè) 評(píng)估解決方案,兼具精準(zhǔn)與快速兩大特色的精密 測(cè)試儀器。量測(cè)項(xiàng)目涵蓋電感、電容、電阻、 品質(zhì)因素、損耗因素等各種被動(dòng)元件測(cè)試所需的 主、副參數(shù)。從20Hz到10MHz的寬廣測(cè)試頻率 范圍,適合分析被動(dòng)元件于不同頻率下的特性。 0.1%的基本量測(cè)準(zhǔn)確度,讓量測(cè)結(jié)果不只是呈 現(xiàn)高穩(wěn)定性,還具備高可靠性。只需15ms的快 速量測(cè),可搭配自動(dòng)化機(jī)臺(tái),有效率地大幅提高 產(chǎn)量。
除了具備Chroma LCR表一貫的優(yōu) 異量測(cè)性能之外,也繼承了各種便利的功能設(shè) 計(jì)。三種不同的輸出阻抗模式,滿(mǎn)足使用者對(duì)于 量測(cè)結(jié)果與其他儀器的匹配需求。彈性的顯示位 數(shù)設(shè)定,可依使用者對(duì)于量測(cè)解析度的需求,調(diào) 整成適合的顯示方式。測(cè)試訊號(hào)的監(jiān)測(cè)功能,可 以即時(shí)觀(guān)察待測(cè)物上實(shí)際承載的電壓與電流大 小。觸發(fā)延遲、量測(cè)延遲與平均次數(shù)等時(shí)序設(shè) 定,讓量測(cè)能緊密配合自動(dòng)化機(jī)臺(tái)動(dòng)作,并在有 限的量測(cè)時(shí)間內(nèi)取得zui精確的量測(cè)結(jié)果。
Chroma 11050-5M在外型結(jié)構(gòu)上采單元分離式設(shè) 計(jì),利用雙CPU分別處理量測(cè)與顯示,不但能提 高量測(cè)的速度,應(yīng)用于自動(dòng)化機(jī)臺(tái)上時(shí)也能夠縮 短測(cè)試線(xiàn)的長(zhǎng)度,強(qiáng)化高頻量測(cè)的精準(zhǔn)度。-
Chroma 11050-5,M 的另一大特色是完善的介面配 置。標(biāo)準(zhǔn)配備的介面包含了可供軟硬體設(shè)定量測(cè) 條件、觸發(fā)量測(cè)動(dòng)作、判定量測(cè)結(jié)果與搜集量測(cè) 數(shù)據(jù)的Handler與RS-232C介面,與可儲(chǔ)存儀器設(shè) 定的USB儲(chǔ)存介面、可直接控制Chroma直流重迭 電源輸出的外部重迭電流介面。選購(gòu)配備的部分 則可依使用者在軟體通訊上的需求,選購(gòu)GPIB或 LAN介面。
致茂Chroma 11050-30M高頻LCR表功率電感由于攜帶型電子通訊產(chǎn)品薄型化與低功 耗的設(shè)計(jì)取向,測(cè)試頻率逐漸提高,連帶使元 件的等效串聯(lián)電阻值成為影響產(chǎn)品優(yōu)劣的重要指 標(biāo)。緩沖電容扮演決定整體電路信賴(lài)性的重要角 色,為了能在頻繁承載瞬態(tài)高壓的環(huán)境下持續(xù)正 常工作,必須于高頻時(shí)仍保持極低的等效串聯(lián)電 阻值。因此Chroma 11050 在設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)時(shí)特別關(guān)注被動(dòng)元件在高頻領(lǐng)域的測(cè)試應(yīng)用,以貼近使用 者的實(shí)際需求,提升關(guān)鍵的量測(cè)功能。其于低阻 抗量測(cè)的準(zhǔn)確度強(qiáng)化,可大幅強(qiáng)化其在高頻量測(cè) 應(yīng)用的實(shí)用性。
藉由全面性的設(shè)計(jì)考量與重點(diǎn)式 的功能強(qiáng)化,不論是在產(chǎn)品特性研發(fā)分析、自動(dòng) 化產(chǎn)線(xiàn)快速測(cè)試或是各式零件進(jìn)出料管理,都是 *的解決方案。
Chroma 11050-30M 高頻LCR表 產(chǎn)品特點(diǎn)
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Chroma 11050-30M 高頻LCR表 產(chǎn)品細(xì)節(jié)圖
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Chroma 11050-30M 高頻LCR表 訂購(gòu)信息
11050 series | 高頻 LCR 表 | |
11050 | 高頻 LCR 表 (1kHz~10MHz) | |
11050-5M | 高頻 LCR 表 (60Hz ~ 5MHz) | |
11050-30M | 高頻 LCR 表 (75kHz ~ 30MHz) | |
A110501 | 四端 SMD 測(cè)試盒 | |
A110211 | 測(cè)試治具 (DIP) | |
A110234 | 高頻測(cè)試線(xiàn) (1m) | |
A133509 | GPIB & Handler 介面卡 | |
A133510 | LAN & USB-H 介面卡 | |
B110500 | High Frequency Extension Test Lead for Automation (BNC to SMA, 1m) |
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